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膜厚仪的影响因素有哪些
1、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
2、边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
3、曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
4、试件的变形
测量头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
选择膜厚测量仪须知
根据测量原理,涂层厚度计通常有五种类型:
1、磁性厚度测量:适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说,fischer膜厚仪,磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。
2、涡流厚度测量:适用于测量导电金属上的非导电层的厚度。这种方法比磁厚度测量精度低。
3、超声波厚度测量:目前国内尚没有用这种方法测量涂层厚度。国外一些厂家也有这种仪器,多层涂敷厚度测量的应用是上述两种方法无法测量的情况。但一般价格昂贵,测量精度不高。
4、电解厚度测量方法:此方法不同于上述三种,不属于NDT,需要破坏涂层。一般精度不高。
5、辐射厚度测量:该仪器非常昂贵(通常超过10万元人民bi),适用于某些特殊场合。
注册资金:1000万元整
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